高光譜顯微成像技術將高光譜成像與顯微成像相結合，可以同時提供待測組織的圖像信息和光譜信息。本文簡單總結了高光譜顯微成像技術的原理。

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高光譜成像系統可以采集到三維數據立方，圖中（x，y）維度為空間圖像信息（如圖所示），第三個維度（1）為光譜信息。在高光譜數據中，有n個灰度圖像，其中n為波段數；圖像中各個像素點均有與之相對應一條長度為n的光譜曲線。

高光譜成像系統根據成像方式的不同分為擺掃型，推掃型，凝視型和快照型。如圖所示，為四種典型高光譜系統成像示意圖的。

擺掃型成像原理如圖2.2（a）所示，樣本某點光譜信息（1）經過掃描鏡、分光系統后被CCD收集，樣本完整空間信息依靠移動x，y兩個維度實現，最終得到高光譜圖像數據立方體（x，y，1）。擺掃型系統在圖像采集過程中需要匹配兩軸高精度電動位移臺，因此硬件配置復雜。同時由于需要在空間維度上進行掃描，該成像方式通常也很耗時。

推掃型成像原理如圖2.2（b）所示，與擺掃型不同，推掃型可一次性獲取狹縫x方向的空間信息，以及狹縫中每個空間點所對應的光譜信息（1），只需沿另一空間軸y方向進行掃描，即可得到三維高光譜數據。推掃型在單個像元上有較長的探測時間，空間分辨率和光譜分辨率相較擺掃型有很大提升，但是系統在推掃成像過程中需要使樣本的移動與陣列檢測器的幀采集率同步以保證圖像平滑。

凝視型成像原理如圖2.2（c）所示，該系統可通過一次曝光獲得待測樣本的空間信息（即特定波段二維灰度圖像（x，y）），利用濾波器（如帶通濾波器、可變干涉濾波器或線性可變濾波器等）調整系統的輸出波長將高光譜數據立方體（x，y，2）填充完整。

快照型成像原理如圖2.2（d）所示，通過一次曝光即可獲得待測樣本空間信息和光譜信息。與擺掃型、推掃型和凝視型不同的是，快照型不需要進行掃描，通過一次積分可獲得完整高光譜數據立方體（x，y，1），時間分辨率有很大的提升。快照型成像系統的優點是硬件配置簡單，可以實現便攜功能，數據處理方便，缺點是空間分辨率和光譜分辨率均有限。

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圖2.2高光譜系統成像示意圖（a）擺掃型，（b）推掃型，（c）凝視型，（d）快照型（41高光譜系統

根據分光方式不同，又有多種分類，不同的分光技術直接影響高光譜系統的整體性能、結構和成本。常見的分光方式有：棱鏡分光、光柵分光、可調諧濾光片分光和光楔成像等。

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圖2.3（a）所示為棱鏡分光法，入射光在經過狹縫和準直鏡后進入棱鏡發生色散現象，置于成像鏡片后焦面的探測器將色散光進行成像。圖2.3（b）為光柵分光法，原理與棱鏡法相類似，分光元件采用光柵。圖2.3（c）為邁克爾遜干涉分光原理示意圖。光譜信息由經過傅里葉變換的干涉圖得到，該分光模式適用于空間和光譜隨時間變化較慢的樣本光譜圖像測量。圖2.3（d）所示為聲光可調諧濾光片。其分光原理是聲光衍射，聲波是一種機械波，當機械波通過晶體介質時會產生應變作用，在介質內部產生收縮或膨脹區域，周期性地改變介質折射率，此時的晶體介質相當于相位光柵。當復色光入射到該晶體時，某一波長的單色光發生衍射，并以一定角度透射出來，通過控制晶體振動頻率實現分光。圖2.3（e）為光楔分光原理，靠近面陣探測器安裝有楔形多層膜介質干涉濾光片，最終干涉產生不同波長的光被面陣探測器的探測像元所接收。

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